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别被波形 “骗” 了!差分探头与无源探头测量不一致的 5 大关键因素

发布:西安普科科技
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在电子测量领域,准确获取电路中的电信号波形对于分析电路工作状态、验证设计思路以及排查故障至关重要。示波器作为最常用的波形测量仪器,搭配不同类型的探头使用。其中,差分探头和无源探头是较为常见的两种,然而在实际测量中,经常会出现两者测量同一信号时波形不一致的情况,这给工程师们带来了诸多困扰。下面我们深入探讨这一现象背后的原因。


工作原理差异

无源探头是示波器探头中较为基础且常用的类型。其工作原理基于简单的电阻电容分压网络,通常采用 10:1 的衰减比例,即把输入信号衰减为原来的十分之一后传输给示波器。它的输入阻抗较高,一般为 10MΩ,能有效减少对被测电路的负载效应,在低频信号测量(通常频率低于 500MHz)时,能够较好地还原信号波形,具有成本低、结构简单、坚固耐用等优点 。

差分探头则采用了更为复杂的差分放大原理,它具备正负两个输入通道,通过差分放大器对两个输入信号的差值进行放大处理。这种设计使得差分探头能够有效抑制共模干扰信号,具有较高的共模抑制比(CMRR),一般可达 80dB 以上,适合测量那些不能以地为参考的信号,例如在功率电子领域中,测量三相逆变器母线电压等浮地系统的信号 。


测量环境影响

在一些复杂的电磁环境中,如存在大量开关电源、电机等干扰源的场合,无源探头由于其单端输入结构,容易受到外界电磁干扰的影响。较长的接地线在高频环境下会形成天线效应,耦合进噪声信号,从而导致测量波形出现杂散的毛刺或失真。例如,在测量开关电源的输出纹波时,如果无源探头的接地线过长,就可能会拾取到开关电源自身的高频开关噪声,使得测量得到的纹波波形上叠加大量无规律的尖峰噪声 。

差分探头虽然对共模干扰有较强的抑制能力,但在面对过大的共模电压变化速率(dv/dt)时,其共模抑制比会下降。当测量一些高速功率器件(如碳化硅 MOSFET)的驱动信号时,由于其开关速度极快,dv/dt 可达 100V/ns 甚至更高,此时差分探头可能无法完全抑制共模干扰,导致测量波形出现幅度偏差或形状畸变。有工程师在测量碳化硅 MOSFET 的驱动电压时,使用差分探头得到的波形在开关瞬间出现了明显的过冲和振荡,与理论波形相差较大,经过分析发现是由于共模电压变化速率过大,超出了差分探头的共模抑制能力范围 。


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探头参数特性差异

无源探头的带宽相对有限,一般常见的无源探头带宽在 500MHz 以下。当测量高频信号时,由于其自身的频率响应特性,会对信号的高频分量产生衰减,导致测量波形的上升沿变缓、幅度下降。例如,使用 500MHz 的无源探头测量一个上升时间为 530ps 的信号,即使不考虑示波器的带宽影响,经过探头后的信号上升时间也会变为 860ps,波形失真明显 。

差分探头的带宽范围则较为广泛,从几十 MHz 到数 GHz 都有。但是不同带宽的差分探头在测量同一信号时也可能出现差异。带宽较低的差分探头在测量高频信号时,同样会面临高频分量丢失的问题;而带宽过高的差分探头在测量低频信号时,可能会引入更多的噪声,因为其对低频信号的滤波效果相对较弱。此外,差分探头的输入阻抗和输入电容等参数也会影响测量结果。如果输入阻抗与被测电路不匹配,会导致信号反射,造成波形畸变;输入电容过大则会对被测电路产生较大的负载效应,改变原信号的特性 。


探头使用方法不当

无源探头在使用时需要进行正确的补偿调节。其连接示波器的一端通常有一个可调电容,通过调整该电容,使探头的高频响应与示波器的输入特性相匹配,从而保证在不同频率下都能准确测量信号。如果补偿调节不当,在测量方波信号时,会出现过冲或下冲的现象,测量其他复杂波形时,也会导致幅度和相位的测量误差。例如,在示波器提供的低频方波校准信号下,若未将无源探头的补偿电容调整到合适值,测量得到的方波可能会出现顶部或底部的圆角,或者出现明显的振铃现象 。

差分探头在使用时,两根测量线的布线方式也会影响测量结果。如果两根测量线未进行双绞,在测量高压、高速信号时,它们会像天线一样接收外界的磁场信号,尤其是在测量 SiC MOSFET 等开关速度快、电流变化速率大的器件时,测量线周围的磁场变化会在测量线中感应出干扰信号,影响测量波形的准确性。将差分探头的两根测量线进行双绞后,驱动电压波形的震荡幅度明显降低,测量结果更加接近真实值 。

差分探头和无源探头测量波形不一致是由多种因素共同作用的结果。工程师在实际测量过程中,需要充分了解两种探头的特性,根据测量需求和环境选择合适的探头,并正确使用和设置探头参数,必要时还需对测量结果进行综合分析和验证,以确保获取到准确可靠的信号波形,为电路设计和分析提供有力支持 。

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2025-09-10
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