通过识别与消除电磁兼容性(EMC)薄弱环节提升抗干扰能力

　　场源工具组介绍

　　Langer EMV-Technik GmbH 提供的H2/H3场源套件 和 E1免疫开发系统 是电磁兼容性测试的核心工具。这些场源能够精准生成可控的电场或磁场，用于定位电子组件中的EMC敏感区域。

　　场源的分级应用原理

　　1.初步筛查：采用低分辨率场源(如BS 02)对组件进行大范围激励，通过观察干扰现象快速锁定潜在故障区域。

　　2.精确定位：后续使用高分辨率场源(如BS 04 DB)发射聚焦场束，精确识别具体薄弱点。

　　注：此过程可能发现标准测试中未检出的次临界故障，提前消除这些隐患可增强组件鲁棒性。

　　实战案例：HDMI显示系统故障诊断

　　故障现象

　　某处理器通过总线与RAM通信时，标准ESD脉冲会导致HDMI显示器图像冻结，仅能通过断电复位解决。

　　诊断流程

　　1.错误复现

　　优先排除HDMI子系统(连接器/线缆/显示器)

　　使用E1系统中的BS 02磁场源(最大覆盖直径2cm)进行全域扫描(图1)

　　2.区域聚焦

　　在处理器与RAM区域成功复现故障

　　换用BS 04 DB场源(H2/H3套件兼容)缩小范围至IC间总线(图2)

　　3.根因确认

　　BS 05 DU场源直接激励总线线路，100%复现冻结故障(图3)

　　新增发现的"棋盘格"图像错误属于次临界现象

　　解决方案

　　即时措施：用铜箔屏蔽总线线路，经测试可完全消除故障

　　长期设计：在PCB布局中将总线置于内层并增加接地屏蔽

　　关键建议

　　早期测试：建议在首版原型阶段即开展场源扫描，避免后期高成本设计变更

　　工具选择：

　　✅ E1免疫开发系统

　　✅ H场源套件H2/H3

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