SigOFIT 光隔离探头
基于 SigOFIT™技术的光隔离探头，拥有极高的共模抑制比和隔离电压，在其带宽范围内洞见信号的全部真相，是判定其他电压探头所测信号真实性的终极裁判。此外，SigOFIT光隔离探头采用先进的激光供电技术，完美解决了隔离供电的问题。
应用场景:
对其他电压探头所测结果准确性、真实性存在质疑时，SigOFIT 光隔离探头可作为最终裁判依据。
·电源设备评估、电流并联测量、EMI 和 ESD 故障排除
·电机驱动设计、功率转换器设计、电子镇流器设计
·氮化镓、碳化硅、IGBT半/全桥设备的设计与分析
·高压高带宽测试应用的安全隔离测试
·逆变器、UPS及开关电源的测试
·宽电压、宽带测试应用
·各种浮地测试
产品特点:
真实的信号呈现
·SigOFIT 光隔离探头具有极高的共模抑制比，在100MHz时CMRR高达112dB、在1GHz时CMRR仍然高达108dB，是判定其他电压探头所测信号真实性的终极裁判。
第三代半导体的优秀测试手段
·第三代半导体器件由于导通与关断时间很短，信号具有更快的上升沿和下降沿，信号中具有很高能量的高频谐波，SigOFIT 光隔离探头在最高带宽时，仍然具有近100dB的共模抑制比，可以近乎完全地抑制高频共模噪声所产生的震荡，所呈现的信号没有额外多余成分，是第三代半导体测试的可靠选择。
极高的测试精度
·作为判定其他电压探头所测信号真实性的终极裁判，测试精度是SigOFIT光隔离探头的重要指标。SigOFIT光隔离探头，具有极佳的幅频特性，直流增益精度优于1%，底噪小于0.45mVrms,预热5min 后零点漂移小于0.1%，增益漂移小于1%。
测试量程更宽
·不同于高压差分探头只可以测试高压信号，SigOFIT 光隔离探头匹配不同的衰减器，可以测试±0.1V至±5000V的差模信号，并实现满量程输出，达到很高的信噪比。
测试氮化镓 (GaN)不炸管
·SigOFIT 光隔离探头测试引线短且采用同轴传输，探头输入电容小于2.5pF，测试氮化镓(GaN)十分安全。
使用灵活
·SigOFIT 光隔离探头比传统高压差分探头体积更小，探头引线更精巧，使用更加灵活方便。
高效便捷
·SigOFIT 光隔离探头响应快，上电即测，校准时间小于1秒，可实时保证精确的信号输出。
产品参数：
