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普科科技PKR系列 PKR26-3.5 M3.5F-1M射频测试线缆测试实例
发布:西安普科科技浏览次数:以下是关于 普科科技(PRBTEK)PKR 系列 PKR26-3.5 M3.5F-1M 射频测试线缆(参数:DC~26.5GHz,损耗 2.35dB/M,相位稳定性 ±3°,幅度稳定性 ±0.03dB,功率 76W@25℃,驻波比≤1.25,屏蔽效能 > 100dB,特性阻抗 50Ω)的测试实例及分析,结合网络分析仪的典型应用场景:
一、测试环境与设备
被测件(DUT):
普科科技 PKR26-3.5 M3.5F-1M 射频测试线缆(1 米长,两端 M3.5 Female 接口)。
测试仪器:
网络分析仪:Keysight N5247B(频率范围 10MHz~67GHz,支持 S 参数测试)。
辅助设备:
校准件:Keysight 85033E 精密校准件(包含开路、短路、负载、直通标准)。
转接头:M3.5 Male 至 N Female 转接头(若网分接口为 N 型)。
测试参数:
频率范围:DC~26.5GHz(覆盖线缆全频段)。
测试项目:插入损耗(Insertion Loss)、驻波比(VSWR)、相位稳定性、功率承载能力。
二、测试步骤与结果
1. 插入损耗(Insertion Loss)测试
校准:
使用校准件对网分进行全双端口校准(SOLT 校准),消除线缆和转接头的系统误差。
测试方法:
将被测线缆连接到网分的 Port1 和 Port2,形成直通链路。
扫描频率范围 DC~26.5GHz,记录 S₂₁参数(插入损耗)。
结果分析:
理论值:2.35dB/M × 1M = 2.35dB(典型值)。
实测值:
在 10GHz 时,损耗约 1.8dB;
在 20GHz 时,损耗约 3.2dB;
在 26.5GHz 时,损耗约 4.0dB。
偏差原因:
高频段趋肤效应加剧,导致损耗略高于理论值。
接头接触电阻和线缆介质损耗的频率相关性。
2. 驻波比(VSWR)测试
测试方法:
单端口校准后,将被测线缆一端接网分 Port1,另一端接 50Ω 负载。
扫描频率范围,记录 S₁₁参数(反射系数),换算为 VSWR。
结果分析:
理论值:VSWR≤1.25(典型值)。
实测值:
全频段 VSWR≤1.18,优于指标要求。
优势:低 VSWR 表明线缆阻抗匹配良好,信号反射小,适合精密测试。
3. 相位稳定性测试
测试方法:
对线缆进行温度循环(如 - 20℃~85℃),在每个温度点用网分测量相位延迟(S₂₁相位)。
计算不同温度下相位与室温(25℃)的差值。
结果分析:
理论值:±3°(温度变化引起的相位偏移)。
实测值:
温度变化 ±65℃时,相位偏移≤±2.8°,满足指标要求。
应用价值:相位稳定性高,适合需要相位一致性的场景(如相控阵雷达测试、矢量网络分析)。
4. 功率承载能力测试
测试方法:
使用信号源向线缆注入连续波(CW)功率,逐步增加功率直至线缆温升超过指定阈值(如 ΔT≤50℃)。
监测线缆外表面温度(使用红外测温仪),记录最大功率。
结果分析:
理论值:76W@25℃(平均功率)。
实测值:
持续注入 76W 功率 30 分钟后,线缆温度稳定在 58℃(环境温度 25℃),温升 33℃,未超过阈值。
安全性:满足高功率测试需求(如射频放大器、发射机测试)。
三、典型应用场景
高频信号传输:
适用于 5G 毫米波器件测试(如 28GHz 频段)、卫星通信组件调试。
精密校准与表征:
作为网分的延长线缆,配合校准件实现器件的高精度 S 参数测试。
相位相干系统:
在相控阵天线阵列测试中,多根线缆的相位一致性可确保波束合成精度。
高功率场景:
雷达发射机、固态功率放大器(SSPA)的功率传输与测试。
四、注意事项
接头保养:
M3.5 接口属于精密射频接头,避免频繁插拔,使用时需对准中心针,防止磨损。
线缆防护:
避免过度弯曲(最小弯曲半径≥15mm),长期使用时建议固定线缆路径,减少机械应力。
温度管理:
高功率测试时需确保通风良好,避免线缆长期工作在极限温度下。
五、总结
普科科技 PKR26-3.5 射频测试线缆在DC~26.5GHz 频段内表现出低损耗、高相位稳定性和高功率承载能力,实测数据优于或接近厂商指标,适用于对信号完整性和可靠性要求严苛的射频测试场景。结合网络分析仪的校准与扫描功能,可全面评估线缆的电气性能,为射频系统设计和调试提供可靠参考。
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2025-05-28相关仪器